年度 2005
计画类别 研究计画
计画名称 单芯片系统验证之核心技术开发:子计画六-针对先进芯片设计的热点验证之完整热模型与高效能热分析(1/3)
参与人 李育民
职称/担任之工作 主持人
计画期间 2005.08 ~ 2006.07
补助/委讬或合作机构 国科会
语言 中文