年度 2010
全部作者 Shao-Chang Huang, Ke-Horng Chen, Hsin-Ming Chen, Michael Ho, and Shih-Jye Shen
論文名稱 ESD Avoiding Circuits for Solving OTP Memory Falsely Programmed Issues
期刊名稱 IEEE CAS Magazine
卷數 Vol. 10
期數 Issue 2
起頁 30
迄頁 39
語言 英文