年度 2010
全部作者 陳科宏、Shao-Chang Huang、Ke-Horng Chen、Hsin-Ming Chen、Michael Ho、and Shih-Jye Shen
論文名稱 ESD Avoiding Circuits for Solving OTP Memory Falsely Programmed Issues
期刊名稱 IEEE CAS Magazine
卷數 Vol. 10
期數 Issue 2
起頁 30
迄頁 39
語言 英文